江西PCI-E測(cè)試檢修

對(duì)于PCIe來說，由于長(zhǎng)鏈路時(shí)的損耗很大，因此接收端的裕量很小。為了掌握實(shí)際工 作環(huán)境下芯片內(nèi)部實(shí)際接收到的信號(hào)質(zhì)量，在PCIe3.0時(shí)代，有些芯片廠商會(huì)用自己內(nèi)置 的工具來掃描接收到的信號(hào)質(zhì)量，但這個(gè)功能不是強(qiáng)制的。到了PCIe4.0標(biāo)準(zhǔn)中，規(guī)范把 接收端的信號(hào)質(zhì)量掃描功能作為強(qiáng)制要求，正式名稱是Lane Margin(鏈路裕量)功能。 簡(jiǎn)單的Lane Margin功能的實(shí)現(xiàn)是在芯片內(nèi)部進(jìn)行二維的誤碼率掃描，即通過調(diào)整水平方 向的采樣點(diǎn)時(shí)刻以及垂直方向的信號(hào)判決閾值，PCIE 3.0的發(fā)射機(jī)物理層測(cè)試；江西PCI-E測(cè)試檢修

SigTest軟件的算法由PCI-SIG提供，會(huì)對(duì)信號(hào)進(jìn)行時(shí)鐘恢復(fù)、均衡以及眼圖、抖 動(dòng)的分析。由于PCIe4.0的接收機(jī)支持多個(gè)不同幅度的CTLE均衡，而且DFE的電平也 可以在一定范圍內(nèi)調(diào)整，所以SigTest軟件會(huì)遍歷所有的CTLE值并進(jìn)行DFE的優(yōu)化，并 根據(jù)眼高、眼寬的結(jié)果選擇比較好的值。14是SigTest生成的PCIe4.0的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試 結(jié)果。SigTest需要用戶手動(dòng)設(shè)置示波器采樣、通道嵌入、捕獲數(shù)據(jù)及進(jìn)行后分析，測(cè)試效率 比較低，而且對(duì)于不熟練的測(cè)試人員還可能由于設(shè)置疏忽造成測(cè)試結(jié)果的不一致，測(cè)試項(xiàng)目 也主要限于信號(hào)質(zhì)量與Preset相關(guān)的項(xiàng)目。為了提高PCIe測(cè)試的效率和測(cè)試項(xiàng)目覆蓋 率，有些示波器廠商提供了相應(yīng)的自動(dòng)化測(cè)試軟件。江西PCI-E測(cè)試檢修PCI-E 3.0測(cè)試接收端的變化；

這個(gè)軟件以圖形化的界面指導(dǎo)用戶完 成設(shè)置、連接和測(cè)試過程，除了可以自動(dòng)進(jìn)行示波器測(cè)量參數(shù)設(shè)置以及生成報(bào)告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測(cè)試項(xiàng)目，提高了測(cè)試的效率和覆蓋率。自動(dòng)測(cè)試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動(dòng)測(cè)試軟件的設(shè)置界面。

主板和插卡的測(cè)試項(xiàng)目針對(duì)的是系統(tǒng)設(shè)備廠商，需要使用PCI-SIG的測(cè)試夾具測(cè) 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對(duì)于設(shè)計(jì)PCIe芯片的廠商來說，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設(shè)計(jì)針對(duì)芯片的測(cè)試板。16是一個(gè)典型的PCIe 芯片的測(cè)試板，測(cè)試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測(cè)信號(hào)引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測(cè)試儀器。扇出通道的典型長(zhǎng)度小于6英寸，對(duì)于16Gbps信號(hào)的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測(cè)試中可以對(duì)扇出通道的影響進(jìn)行評(píng)估或者去嵌入，測(cè)試板上還應(yīng) 設(shè)計(jì)和扇出通道疊層設(shè)計(jì)、布線方式盡量一致的復(fù)制通道(Replica Channel),復(fù)制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設(shè)計(jì)成同軸連接方式，這樣可以通過對(duì)復(fù)制通道直接進(jìn)行測(cè)試 推測(cè)扇出通道的特性。

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數(shù)據(jù)鏈路層(Data Link Layer)根據(jù)高速串行通信的  特點(diǎn)進(jìn)行了重新設(shè)計(jì)，上層的事務(wù)層(Transaction)和總線拓?fù)涠寂c早期的PCI類似，典型  的設(shè)備有根設(shè)備(Root Complex) 、終端設(shè)備(Endpoint), 以及可選的交換設(shè)備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴(kuò)展出來的，根設(shè)備在北橋芯片內(nèi)部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內(nèi)部，成為CPU重要的外部擴(kuò)展總線。PCIe  總線協(xié)議層的結(jié)構(gòu)以及相關(guān)規(guī)范涉及的主要內(nèi)容。pcie 有幾種類型,哪個(gè)速度快?

規(guī)范中規(guī)定了共11種不同的Preshoot和De-emphasis的組合，每種組合叫作一個(gè) Preset,實(shí)際應(yīng)用中Tx和Rx端可以在Link Training階段根據(jù)接收端收到的信號(hào)質(zhì)量協(xié)商 出一個(gè)比較好的Preset值。比如P4沒有任何預(yù)加重，P7強(qiáng)的預(yù)加重。圖4.3是 PCIe3.0和4.0標(biāo)準(zhǔn)中采用的預(yù)加重技術(shù)和11種Preset的組合(參考資料：PCI Express@ Base Specification4 .0) 。對(duì)于8Gbps、16Gbps 以及32Gbps信號(hào)來說，采用的預(yù)加重技術(shù)完 全一樣，都是3階的預(yù)加重和11種Preset選擇。PCIE物理層鏈路一致性測(cè)試狀態(tài)設(shè)計(jì)；江西PCI-E測(cè)試檢修

pcie接口定義及知識(shí)解析；江西PCI-E測(cè)試檢修

當(dāng)被測(cè)件進(jìn)入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號(hào)后，被測(cè)件應(yīng)該會(huì)把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過TX端發(fā)送出去送回誤碼儀，誤碼儀通過比較誤碼來判斷數(shù)據(jù)是否被  正確接收，測(cè)試通過的標(biāo)準(zhǔn)是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進(jìn)  行PCIe4.0的插卡接收的實(shí)際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時(shí)鐘恢復(fù)電路、預(yù)加重模塊、 參考時(shí)鐘倍頻、信號(hào)均衡電路等，非常適合速率高、要求復(fù)雜的場(chǎng)合。在接收端容限測(cè)試中， 可調(diào)ISI板上Trace線的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適，可能需要非常長(zhǎng)的時(shí)  間進(jìn)行Stress Eye的計(jì)算和鏈路調(diào)整，甚至無(wú)法完成校準(zhǔn)和測(cè)試。 一般建議事先用VNA  標(biāo)定和選擇好鏈路，這樣校準(zhǔn)過程會(huì)快很多，測(cè)試結(jié)果也會(huì)更加準(zhǔn)確。所以，在PCIe4.0的  測(cè)試中，無(wú)論是發(fā)送端測(cè)試還是接收端測(cè)試，都比較好有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配合進(jìn)行ISI通道  選擇。江西PCI-E測(cè)試檢修