重慶DDR一致性測(cè)試保養(yǎng)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-04-04

10Gbase-T總線測(cè)量為例做簡(jiǎn)單介紹。

10Gbase-T總線的測(cè)量需要按照?qǐng)D7-128來(lái)連接各種儀器和測(cè)試夾具。

10Gbase-T的輸岀跌落/定時(shí)抖動(dòng)/時(shí)鐘頻率要求用實(shí)時(shí)示波器測(cè)試;線性度/功率譜密度 PSD/功率電平要求用頻譜分析儀測(cè)試;回波損耗要求用網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試。

需要自動(dòng)化測(cè)試軟件進(jìn)行各種參數(shù)測(cè)試,一般這個(gè)軟件直接裝在示波器內(nèi)置的計(jì)算機(jī)里。 沒(méi)有自動(dòng)測(cè)試軟件,測(cè)試是異常困難和耗時(shí)的工作。

測(cè)試夾具是測(cè)試系統(tǒng)的重要組成部分,測(cè)試儀器公司或一些專業(yè)的公司會(huì)提供工業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 總線所用的測(cè)試夾具。當(dāng)然也可以自己設(shè)計(jì),自己設(shè)計(jì)時(shí)主要關(guān)注阻抗匹配、損耗、串?dāng)_等 電氣參數(shù),以及機(jī)械連接方面的連接可靠性和可重復(fù)性等可操作性功能。 82496 DDR信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試方法、測(cè)試裝置與測(cè)試設(shè)備與流程;重慶DDR一致性測(cè)試保養(yǎng)

重慶DDR一致性測(cè)試保養(yǎng),DDR一致性測(cè)試

DDR數(shù)據(jù)總線的一致性測(cè)試

DQS (源同步時(shí)鐘)和DQ (數(shù)據(jù))的波形參數(shù)測(cè)試與命令地址總線測(cè)試類似,比較簡(jiǎn) 單,在此不做詳細(xì)介紹。對(duì)于DDR1, DQS是單端信號(hào),可以用單端探頭測(cè)試;DDR2&3 DQS 則是差分信號(hào),建議用差分探頭測(cè)試,減小探測(cè)難度。DQS和DQ波形包括三態(tài)(T特征,以及讀數(shù)據(jù)(Read Burst)、寫數(shù)據(jù)(Write Burst)的DQS和DQ的相對(duì)時(shí)序特征。在 我們測(cè)試時(shí),只是捕獲了這樣的波形,然后測(cè)試出讀、寫操作時(shí)的建立時(shí)間和保持時(shí)間參數(shù) 是不夠的,因?yàn)閿?shù)據(jù)碼型是變化的,猝發(fā)長(zhǎng)度也是變化的,只測(cè)試幾個(gè)時(shí)序參數(shù)很難覆蓋各 種情況,更難測(cè)出差情況。很多工程師花了一周時(shí)間去測(cè)試DDR,卻仍然測(cè)不出問(wèn)題的關(guān) 鍵點(diǎn)就在于此。因此我們應(yīng)該用眼圖的方式去測(cè)試DDR的讀、寫時(shí)序,確保反映整體時(shí)序情 況并捕獲差情況下的波形,比較好能夠套用串行數(shù)據(jù)的分析方法,調(diào)用模板幫助判斷。 校準(zhǔn)DDR一致性測(cè)試參考價(jià)格DDR時(shí)鐘總線的一致性測(cè)試。

重慶DDR一致性測(cè)試保養(yǎng),DDR一致性測(cè)試

DDR總線上需要測(cè)試的參數(shù)高達(dá)上百個(gè),而且還需要根據(jù)信號(hào)斜率進(jìn)行復(fù)雜的查表修 正。為了提高DDR信號(hào)質(zhì)量測(cè)試的效率,比較好使用御用的測(cè)試軟件進(jìn)行測(cè)試。使用自動(dòng) 測(cè)試軟件的優(yōu)點(diǎn)是:自動(dòng)化的設(shè)置向?qū)П苊膺B接和設(shè)置錯(cuò)誤;優(yōu)化的算法可以減少測(cè)試時(shí) 間;可以測(cè)試JEDEC規(guī)定的速率,也可以測(cè)試用戶自定義的數(shù)據(jù)速率;自動(dòng)讀/寫分離技 術(shù)簡(jiǎn)化了測(cè)試操作;能夠多次測(cè)量并給出一個(gè)統(tǒng)計(jì)的結(jié)果;能夠根據(jù)信號(hào)斜率自動(dòng)計(jì)算建 立/保持時(shí)間的修正值。

克勞德高速數(shù)字信號(hào)測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

DDR SDRAM即我們通常所說(shuō)的DDR內(nèi)存,DDR內(nèi)存的發(fā)展已經(jīng)經(jīng)歷了五代,目前 DDR4已經(jīng)成為市場(chǎng)的主流,DDR5也開(kāi)始進(jìn)入市場(chǎng)。對(duì)于DDR總線來(lái)說(shuō),我們通常說(shuō)的 速率是指其數(shù)據(jù)線上信號(hào)的快跳變速率。比如3200MT/s,對(duì)應(yīng)的工作時(shí)鐘速率是 1600MHz。3200MT/s只是指理想情況下每根數(shù)據(jù)線上比較高傳輸速率,由于在DDR總線 上會(huì)有讀寫間的狀態(tài)轉(zhuǎn)換時(shí)間、高阻態(tài)時(shí)間、總線刷新時(shí)間等,因此其實(shí)際的總線傳輸速率 達(dá)不到這個(gè)理想值。 DDR測(cè)試信號(hào)問(wèn)題排查;

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DDR內(nèi)存的典型使用方式有兩種: 一種是在嵌入式系統(tǒng)中直接使用DDR顆粒,另一 種是做成DIMM條(Dual In - line Memory Module,雙列直插內(nèi)存模塊,主要用于服務(wù)器和 PC)或SO - DIMM(Small Outline DIMM,小尺寸雙列直插內(nèi)存,主要用于筆記本) 的形式插  在主板上使用。

在服務(wù)器領(lǐng)域,使用的內(nèi)存條主要有UDIMM、RDIMM、LRDIMM等。UDIMM(UnbufferedDIMM,非緩沖雙列直插內(nèi)存)沒(méi)有額外驅(qū)動(dòng)電路,延時(shí)較小,但數(shù)據(jù)從CPU傳到每個(gè)內(nèi)存顆粒時(shí),UDIMM需要保證CPU到每個(gè)內(nèi)存顆粒之間的傳輸距離相等,設(shè)計(jì)難度較大,因此UDIMM在容量和頻率上都較低,通常應(yīng)用在性能/容量要求不高的場(chǎng)合。 完整的 DDR4調(diào)試、分析和一致性測(cè)試.重慶DDR一致性測(cè)試保養(yǎng)

DDR-致性測(cè)試探測(cè)和夾具;重慶DDR一致性測(cè)試保養(yǎng)

DDR4/5與LPDDR4/5 的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試

由于基于DDR顆?;駾DR DIMM的系統(tǒng)需要適配不同的平臺(tái),應(yīng)用場(chǎng)景千差萬(wàn)別, 因此需要進(jìn)行詳盡的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試才能保證系統(tǒng)的可靠工作。對(duì)于DDR4及以下的標(biāo)準(zhǔn) 來(lái)說(shuō),物理層一致性測(cè)試主要是發(fā)送的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試;對(duì)于DDR5標(biāo)準(zhǔn)來(lái)說(shuō),由于接收端出 現(xiàn)了均衡器,所以還要包含接收測(cè)試。

DDR信號(hào)質(zhì)量的測(cè)試也是使用高帶寬的示波器。對(duì)于DDR的信號(hào),技術(shù)規(guī)范并沒(méi)有 給出DDR信號(hào)上升/下降時(shí)間的具體參數(shù),因此用戶只有根據(jù)使用芯片的實(shí)際快上升/ 下降時(shí)間來(lái)估算需要的示波器帶寬。通常對(duì)于DDR3信號(hào)的測(cè)試,推薦的示波器和探頭的帶寬在8GHz;DDR4測(cè)試建議的測(cè)試系統(tǒng)帶寬是12GHz;而DDR5測(cè)試則推薦使用 16GHz以上帶寬的示波器和探頭系統(tǒng)。 重慶DDR一致性測(cè)試保養(yǎng)

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