AOI工作的原理對(duì)比1.統(tǒng)計(jì)建模方式:圖像對(duì)比(ImageMatching)的處理方式。通過(guò)對(duì)OK模板與實(shí)際圖像的對(duì)比,求出差異的程度,來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。這種方式對(duì)使用人員要求低,但適應(yīng)性,檢測(cè)能力方面有諸多問(wèn)題。早期,因?yàn)殚_(kāi)發(fā)簡(jiǎn)單,我國(guó)有不少AOI制造商,加以改善(模板有多幅OJ圖像疊加而成),美其名曰:“統(tǒng)計(jì)建?!?。2.邏輯算法方式:通過(guò)算法對(duì)圖像的特征點(diǎn)的抽取,來(lái)進(jìn)行檢測(cè)。這種方式對(duì)使用人員要求有一定的經(jīng)驗(yàn)?;谒惴ǖ臋z測(cè)方法經(jīng)過(guò)很多年的發(fā)展,已經(jīng)非常成熟穩(wěn)定,并且在實(shí)際運(yùn)用中取得了很好的效果。被行業(yè)前列的AOI制造商采用。在SMT中,AOI主要應(yīng)用于焊膏印刷檢測(cè)、元件檢驗(yàn)、焊后組件檢測(cè)。佛山AOI檢測(cè)設(shè)備
AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀及其工作原理AOI視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備功能:(1)AOI的光源由紅、綠、藍(lán)三種LED燈組成,利用色彩的三基色原理來(lái)組合成不同的色彩,結(jié)合光學(xué)原理中的鏡面反射、漫反射、斜面反射,將PCB上貼片元件及焊接狀況以圖像的方式顯示出來(lái)。(2)權(quán)值成像數(shù)據(jù)差異分析系統(tǒng)是通過(guò)對(duì)一幅圖像柵格化,分析各個(gè)像素顏色分布的位置坐標(biāo)、成像柵格之間(色彩)過(guò)度關(guān)系等成像細(xì)節(jié),列出若干個(gè)函數(shù)式,再通過(guò)對(duì)相同面積大小的若干幅相似圖片進(jìn)行數(shù)據(jù)提取,并分析計(jì)算,將計(jì)算結(jié)果按軟件設(shè)定的權(quán)值關(guān)系及初圖像像素色彩、坐標(biāo)進(jìn)行還原,形成一個(gè)虛擬的、權(quán)值的數(shù)字圖像,這個(gè)圖像稱為“權(quán)值圖像”,其主要數(shù)字信息包含了圖像的圖形輪廓、色彩的分布、允許變化的權(quán)值關(guān)系等,以便后面進(jìn)行分析和處理。AOI經(jīng)過(guò)十幾年的發(fā)展,技術(shù)水平仍處于高速發(fā)展階段。目前國(guó)內(nèi)市場(chǎng)上可見(jiàn)的AOI設(shè)備品牌眾多,每種AOI檢測(cè)設(shè)備各有所長(zhǎng);每個(gè)品牌的AOI優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)都取決于其不同的創(chuàng)新軟件算法,通常采用的軟件算法有:模板比較、邊緣檢查、灰度模型、特征提取、固態(tài)建模、矢量分析、圖形配對(duì)和傅里葉氏分析等,盡管算法各異,但是AOI的運(yùn)作原理基本相同。茂名在線式AOI檢測(cè)設(shè)備智能制造中的AOI檢測(cè)技術(shù)AOI檢測(cè)技術(shù)具有自動(dòng)化、非接觸、速度快、精度高、穩(wěn)定性高等優(yōu)點(diǎn)。
二、AOI被應(yīng)用于電子元器件檢測(cè)時(shí)主要運(yùn)用在中下游領(lǐng)域AOI檢測(cè)目前階段主要對(duì)于PCB印刷電路板的光板、錫膏印刷、元件、焊后組件以及集成電路芯片的晶圓外觀、2D/3D、Bumping和IC封裝等領(lǐng)域開(kāi)展檢測(cè)。PCB印刷電路板:PCB光板檢測(cè),錫膏印刷檢測(cè),元件檢測(cè),焊后組件檢測(cè)等;集成電路芯片:晶圓外觀檢測(cè)、2D/3D檢測(cè),Bumping檢測(cè)、IC封裝檢測(cè)等;FPD平板顯示器:Mura缺陷檢測(cè),Colorfilter檢測(cè),PI檢測(cè),LC液晶檢測(cè),色度、膜厚、光學(xué)密度檢測(cè)LC液晶檢測(cè),色度、膜厚、光學(xué)密度檢測(cè);其他行業(yè)汽車電子檢測(cè)、MicroCrack檢測(cè)等;
PCB缺陷可大致分為短路(包括基銅短路、細(xì)線短路、電鍍斷路、微塵短路、凹坑短路、重復(fù)性短路、污漬短路、干膜短路、蝕刻不足短路、鍍層過(guò)厚短路、刮擦短路、褶皺短路等),開(kāi)路(包括重復(fù)性開(kāi)路、刮擦開(kāi)路、真空開(kāi)路、缺口開(kāi)路等)和其他一些可能導(dǎo)致PCB報(bào)廢的缺陷(包括蝕刻過(guò)度、電鍍燒焦、***),在PCB生產(chǎn)流程中,基板的制作、覆銅有可能產(chǎn)生一些缺陷,但主要缺陷在蝕刻之后產(chǎn)生,AOI一般在蝕刻工序之后進(jìn)行檢測(cè),主要用來(lái)發(fā)現(xiàn)其上缺少的部分和多余的部分。在PCB檢測(cè)中,圖像對(duì)比算法應(yīng)用較多,且以2D檢測(cè)為主,其主要包括數(shù)據(jù)處理類(對(duì)輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行初步處理,過(guò)濾小的***和殘留銅及不需檢測(cè)的孔等),測(cè)量類(對(duì)輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取,記錄的特征代碼、尺寸和位置并與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比)和拓?fù)漕悾ㄓ糜跈z測(cè)增加或丟失的特征),圖1為特征提取法示意圖,(a)為標(biāo)準(zhǔn)版和被檢板二值圖,(b)為數(shù)學(xué)形態(tài)分析后的特征圖。AOI一般可以發(fā)現(xiàn)大部分缺陷,存在少量的漏檢問(wèn)題,不過(guò)主要影響其可靠性的還是誤檢問(wèn)題。PCB加工過(guò)程中的粉塵、沾污和一部分材料的反射性差都可能造成虛假報(bào)警,因此目前在使用AOI檢測(cè)出缺陷后,必須進(jìn)行人工驗(yàn)證。利用圖像的明暗關(guān)系形成目標(biāo)物的外形輪廓,比較該外形輪廓與標(biāo)準(zhǔn)輪廓的相像程度。
SMT中應(yīng)用的錫膏檢測(cè)技術(shù)的形式多種多樣,但其中AOI的基本原理是相同的,就是用光學(xué)原理獲取被測(cè)物品圖象,一般通過(guò)攝像機(jī)獲得檢測(cè)物的照明圖象然后數(shù)字化,再以某種方法進(jìn)行比較、分析、檢驗(yàn)和判斷,相當(dāng)于將人工目視檢測(cè)轉(zhuǎn)變?yōu)樽詣?dòng)化、智能化。AOI分析和判斷的算法可分為兩種,一種是設(shè)計(jì)規(guī)則檢驗(yàn)(矢量分析),一種是圖形識(shí)別檢驗(yàn)。矢量分析是按照固定的規(guī)則檢測(cè)圖形。一般是所有連線以焊點(diǎn)為端點(diǎn),所有引線寬度、間隔不小于某一規(guī)定值等規(guī)則檢測(cè)PCB電路圖形。AOI中文全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè),是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見(jiàn)缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。陽(yáng)江自動(dòng)化AOI檢測(cè)設(shè)備維保
AOI的設(shè)備構(gòu)成AOI檢測(cè)的工作邏輯?佛山AOI檢測(cè)設(shè)備
市場(chǎng)上的AOI檢測(cè)設(shè)備的大致流程是相同的,基本上都是通過(guò)圖形識(shí)別法。利用AOI系統(tǒng)中存儲(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字化圖像與實(shí)際檢測(cè)到的圖像進(jìn)行比較,從而獲得檢測(cè)結(jié)果。AOI的光線照射有白光和彩色光兩個(gè)類型設(shè)備,白光是用256層次的灰度;彩色是用紅光,綠光,藍(lán)光,光線照射至焊錫/元器件的表面,通過(guò)光線反射到鏡頭中,產(chǎn)生二維圖像的三維顯示,來(lái)反饋焊點(diǎn)或者元器件的高度和色差。人看到和認(rèn)識(shí)物體是通過(guò)光線反射回來(lái)的量進(jìn)行判斷,反射量多為亮,反射量少為暗。AOI與人判斷的原理相同。佛山AOI檢測(cè)設(shè)備