隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的不斷發(fā)展與應(yīng)用以及用戶的特殊要求與其它工業(yè)技術(shù)的應(yīng)用，全站儀出現(xiàn)了一個(gè)新的發(fā)展時(shí)期，出現(xiàn)了帶內(nèi)存、防水型、防爆型、電腦型等等的全站儀。世界上比較高精度的全站儀：測(cè)角精度（一測(cè)回方向標(biāo)準(zhǔn)偏差）0.5秒，測(cè)距精度 0.5mm+1ppm。利用ATR（Auto Targets Recognition，自動(dòng)目標(biāo)識(shí)別）功能，白天和黑夜（無(wú)需照明）都可以工作。全站儀已經(jīng)達(dá)到令人不可致信的角度和距離測(cè)量精度，既可人工操作也可自動(dòng)操作，既可遠(yuǎn)距離遙控運(yùn)行也可在機(jī)載應(yīng)用程序控制下使用，可使用在精密工程測(cè)量、變形監(jiān)測(cè)、幾乎是無(wú)容許限差的機(jī)械引導(dǎo)控制等應(yīng)用領(lǐng)域。MEMS形貌測(cè)量?jī)x器。。。發(fā)展測(cè)量?jī)x器安裝
四個(gè)要素1.測(cè)量的客體即測(cè)量對(duì)象:主要指幾何量，包括長(zhǎng)度、面積、形狀、高程、角度、表面粗糙度以及形位誤差等。由于幾何量的特點(diǎn)是種類繁多，形狀又各式各樣，因此對(duì)于他們的特性，被測(cè)參數(shù)的定義，以及標(biāo)準(zhǔn)等都必須加以研究和熟悉，以便進(jìn)行測(cè)量。2.計(jì)量單位:我國(guó)國(guó)院于1977年5月27日頒發(fā)的《中華人民共和國(guó)計(jì)量管理?xiàng)l例(試行)》第三條規(guī)定中重申:"我國(guó)的基本計(jì)量制度是米制(即公制)，逐步采用國(guó)際單位制。"1984年2月27日正式公布中華人民共和國(guó)法定計(jì)量單位，確定米制為我國(guó)的基本計(jì)量制度。在長(zhǎng)度計(jì)量中單位為米(m)，其他常用單位有毫米(mm)和微米(μm)。在角度測(cè)量中以度、分、秒為單位。發(fā)展測(cè)量?jī)x器規(guī)格尺寸電子元器件形貌測(cè)量?jī)x器。
雙軸自動(dòng)補(bǔ)償?shù)乃捎玫臉?gòu)造（現(xiàn)有水平，包括Topcon,Trimble）：使用一水泡（該水泡不是從外部可以看到的，與檢驗(yàn)校正中所描述的不是一個(gè)水泡）來(lái)標(biāo)定超高水平面，該水泡是中間填充液體，兩端是氣體。在水泡的上部?jī)蓚?cè)各放置一發(fā)光二極管，而在水泡的下部?jī)蓚?cè)各放置一光電管，用一接收發(fā)光二極管透過(guò)水泡發(fā)出的光。而后，通過(guò)運(yùn)算電路比較兩二極管獲得的光的強(qiáng)度。當(dāng)在初始位置，即超高水平時(shí)，將運(yùn)算值置零。當(dāng)作業(yè)中全站儀器傾斜時(shí)，運(yùn)算電路實(shí)時(shí)計(jì)算出光強(qiáng)的差值，從而換算成傾斜的位移，將此信息傳達(dá)給控制系統(tǒng)，以決定自動(dòng)補(bǔ)償?shù)闹?。自?dòng)補(bǔ)償?shù)姆绞匠跤晌⑻幚砥饔?jì)算后修正輸出外，還有一種方式即通過(guò)步進(jìn)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)微型絲桿，把此軸方向上的偏移進(jìn)行補(bǔ)正，從而使軸時(shí)刻保證超高水平。
電子測(cè)量?jī)x器具有獨(dú)特的關(guān)聯(lián)戰(zhàn)略性產(chǎn)業(yè)，它自身的發(fā)展好壞，對(duì)整個(gè)國(guó)民經(jīng)濟(jì)特別是電子信息產(chǎn)業(yè)的發(fā)展有著十分明顯的影響。我國(guó)的電子測(cè)量?jī)x器市場(chǎng)龐大，需求量大，電子測(cè)量?jī)x器對(duì)電子信息產(chǎn)業(yè)的發(fā)展起到至關(guān)重要的作用。國(guó)內(nèi)電子計(jì)測(cè)技術(shù)及電子測(cè)量?jī)x器的發(fā)展迅速，遍及各行各業(yè)，至、電子計(jì)測(cè)技術(shù)基礎(chǔ)理論研究:新的測(cè)試?yán)碚摵头椒ㄑ芯俊⑷斯ぶ悄芾碚撗芯?、頻率基溯源與標(biāo)準(zhǔn)器獲得方法研究、新型測(cè)控總線及系統(tǒng)結(jié)構(gòu)研究、測(cè)量與儀器標(biāo)準(zhǔn)的研究與制定等都是今后在理論研究方面的重點(diǎn)。第二、電子計(jì)測(cè)技術(shù)的發(fā)展:發(fā)展較快的技術(shù)有先進(jìn)測(cè)控總線技術(shù)、數(shù)字信號(hào)處理新技術(shù)、綜合測(cè)試與故障診斷新技術(shù)、光頻標(biāo)和精密時(shí)頻測(cè)試新技術(shù)等。第三、二類重要電子測(cè)量?jī)x器:矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的一個(gè)重要發(fā)展方向是構(gòu)建以矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為內(nèi)核的自動(dòng)測(cè)量技術(shù)和自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng);另外，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀已走出傳統(tǒng)的線性網(wǎng)絡(luò)的應(yīng)用領(lǐng)域，而在非線性、大功率網(wǎng)絡(luò)的測(cè)試和分析中發(fā)揮著重要作用。蘇州運(yùn)動(dòng)平臺(tái)校準(zhǔn)儀器。
測(cè)量設(shè)備是實(shí)現(xiàn)測(cè)量過(guò)程所必需的測(cè)量?jī)x器、軟件、計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)、標(biāo)準(zhǔn)樣品（標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)）或輔助設(shè)備或它們的組合。測(cè)量設(shè)備包括：一般通用測(cè)量?jī)x器（游標(biāo)卡尺、壓力表、衡器）；計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)（量塊標(biāo)準(zhǔn)裝置）；檢驗(yàn)設(shè)備（耐電壓測(cè)試儀、絕緣電阻表）；輔助設(shè)備（霉菌培養(yǎng)箱、烘箱）；試驗(yàn)設(shè)備（振動(dòng)臺(tái)、老化設(shè)備）；標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)（參考物質(zhì)、標(biāo)準(zhǔn)樣品）；檢定/校準(zhǔn)裝置（壓力表檢定裝置）軟件（測(cè)量、數(shù)據(jù)處理）與計(jì)算機(jī)；監(jiān)視和記錄裝置（溫濕度計(jì)、溫度記錄儀）；儀器使用說(shuō)明書(shū)、數(shù)據(jù)、表格。上海3D輪廓儀測(cè)量?jī)x器。智能化測(cè)量?jī)x器生產(chǎn)過(guò)程
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根據(jù)具體情況而定，如測(cè)量產(chǎn)品所要求的規(guī)格與參數(shù)、被測(cè)量產(chǎn)品之精密度要求、不同的測(cè)量?jī)x器的測(cè)量范圍是不盡完美無(wú)缺的，總會(huì)有一定的缺陷的。如投影儀就不能很好的看到一些透明產(chǎn)品的輪廓與表面現(xiàn)象，不適合于測(cè)量塑膠件的不透明部分尺寸。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)則不適用于小工件的測(cè)量，因?yàn)闇y(cè)量針的剛性與大小不允許探測(cè)到小尺寸部位等等。影像測(cè)量?jī)x就不能測(cè)量較大與較重的工件，因?yàn)樗某兄亓颗c測(cè)量行程受到限制。測(cè)量工具顯微鏡也不適用于測(cè)量較大與較重的工件，而且做工粗糙的工件不適合在工具顯微鏡上測(cè)量，因?yàn)樗姆糯蟊稊?shù)與精度遠(yuǎn)遠(yuǎn)在其精密度之上，放大后由于其粗糙的原因顯得無(wú)法選擇測(cè)量邊界。發(fā)展測(cè)量?jī)x器安裝
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