黃石UFS分析儀報(bào)價(jià)

    UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí)，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號(hào)，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。系統(tǒng)的電流負(fù)載能力一般在幾個(gè)KΩ以上，分流效應(yīng)對(duì)系統(tǒng)的影響一般可以忽略，現(xiàn)在流行的幾種長邏輯分析儀探頭的阻抗一般在20~200KΩ之間。b、探頭的容性負(fù)載:容性負(fù)載就是探頭接入系統(tǒng)時(shí)，探頭的等效電容，這個(gè)值一般在1~30PF之間，在高速系統(tǒng)中，容性負(fù)載對(duì)電路的影響遠(yuǎn)遠(yuǎn)于阻性負(fù)載，如果這個(gè)值太，將會(huì)直接影響整個(gè)系統(tǒng)中的信號(hào)"沿"的形狀改變整個(gè)電路的性質(zhì)，改變邏輯分析儀對(duì)系統(tǒng)觀測的實(shí)時(shí)性，導(dǎo)致我們看到的并不是系統(tǒng)原有的特性。c、探頭的易用性:是指探頭接入系統(tǒng)時(shí)的難易程度，隨著芯片封裝的密度越來越高，出現(xiàn)了BGA、QFP、TQFP、PLCC、SOP等各種各樣的封裝形式，IC的腳間距小的已達(dá)到，要很好的將信號(hào)引出，特別是BGA封裝。PCle Gen 4協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！黃石UFS分析儀報(bào)價(jià)

    但由于“轉(zhuǎn)到”操作，剩余的序列步驟可以以任意順序執(zhí)行。執(zhí)行一個(gè)序列步驟且布爾邏輯表達(dá)式均為假時(shí)，邏輯分析儀將采集下一樣本并再次執(zhí)行同一序列步驟于“KeepacquiringmoresamplesuntilDATA=7000,thentrigger”。如果符合一個(gè)序列步驟中的布爾邏輯表達(dá)式，那么在執(zhí)行下一序列步驟之前總是采集另一樣本。換句話說，如果一個(gè)樣本符合序列步驟1的條件，在執(zhí)行序列步驟2前將采集另一樣本。這意味著一個(gè)單獨(dú)的樣本不可能符合多個(gè)序列步驟的條中的條件二者之間采集了新的樣本，因此邏輯分析儀不會(huì)在采集樣本#1時(shí)觸發(fā)?？蓪⒋擞|發(fā)序列看作是“FindADDR=1000followedbyDATA=2000andthentrigger”。觸發(fā)序列中的多序列步驟暗示了“后接”。邏輯分析儀觸發(fā)后，將不會(huì)再次觸發(fā)。換句話說。歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。長沙UART分析儀報(bào)價(jià)HSIC協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！

    系統(tǒng)的電流負(fù)載能力一般在幾個(gè)KΩ以上，分流效應(yīng)對(duì)系統(tǒng)的影響一般可以忽略，現(xiàn)在流行的幾種長邏輯分析儀探頭的阻抗一般在20~200KΩ之間。b、探頭的容性負(fù)載:容性負(fù)載就是探頭接入系統(tǒng)時(shí)，探頭的等效電容，這個(gè)值一般在1~30PF之間，在高速系統(tǒng)中，容性負(fù)載對(duì)電路的影響遠(yuǎn)遠(yuǎn)于阻性負(fù)載，如果這個(gè)值太，將會(huì)直接影響整個(gè)系統(tǒng)中的信號(hào)"沿"的形狀改變整個(gè)電路的性質(zhì)，改變邏輯分析儀對(duì)系統(tǒng)觀測的實(shí)時(shí)性，導(dǎo)致我們看到的并不是系統(tǒng)原有的特性。c、探頭的易用性:是指探頭接入系統(tǒng)時(shí)的難易程度，隨著芯片封裝的密度越來越高，出現(xiàn)了BGA、QFP、TQFP、PLCC、SOP等各種各樣的封裝形式，IC的腳間距小的已達(dá)到，要很好的將信號(hào)引出，特別是BGA封裝，確實(shí)有困難，并且分立器件的尺寸也越來越小，典型的已達(dá)到×。d、與現(xiàn)有電路板上的調(diào)試部分的兼容性。6、系統(tǒng)的開放性:隨著數(shù)據(jù)共享的呼聲越來越高，我們所使用的系統(tǒng)的開放性就越來越重要，邏輯分析儀的操作系統(tǒng)也由過去的系統(tǒng)發(fā)展到使用Windows介面，這樣我們?cè)谑褂脮r(shí)很方便。小結(jié)如果在你的工作中有數(shù)字邏輯信號(hào)，你就有機(jī)會(huì)使用邏輯分析儀。因此應(yīng)選好一種邏輯分析儀，既符合所用的功能，又不太超越所需的功能。

    設(shè)置效果如圖1所示：圖1IIC通道開啟三、IIC采樣參數(shù)設(shè)置1、采樣模式：同步異步的區(qū)別，同步采樣優(yōu)勢；2、采樣頻率：采樣頻率一般設(shè)置為被測信號(hào)的4~5倍，需要協(xié)議解碼的時(shí)候需要20倍以上，采樣率不夠會(huì)出現(xiàn)解碼錯(cuò)誤。被測信號(hào)頻率高要采用同步采樣；3、存儲(chǔ)深度：通道復(fù)用、分段存儲(chǔ)、壓縮存儲(chǔ)、記錄模式（實(shí)時(shí)存儲(chǔ)）；4、門限電壓：一般設(shè)置為1/2（MAX+MIN）；5、濾波設(shè)置：總線濾波，濾一個(gè)采樣周期的毛刺信號(hào)。通道濾波，濾1~2個(gè)采樣周期的濾波?？偩€濾波和通道濾波都是硬件濾波。設(shè)置效果如圖2所示：圖2參數(shù)設(shè)置四、IIC觸發(fā)與解碼設(shè)置1、名稱設(shè)置為自定義；2、輸入總線對(duì)應(yīng)好通道；3、總線設(shè)置好地址位。設(shè)置效果如圖3、圖4所示：圖3觸發(fā)設(shè)置圖4屬性配置五、IIC解碼分析結(jié)果開始采集并存儲(chǔ)一段數(shù)據(jù)，從而進(jìn)行解析。1、數(shù)據(jù)段區(qū)域，體現(xiàn)了具體數(shù)據(jù)解析的波形于結(jié)果；2、可以通過波形顯示設(shè)置調(diào)節(jié)波形觀察的方式；3、通過波形縮放能夠觀察不同時(shí)間產(chǎn)生的具體幀傳播內(nèi)容；4、時(shí)間表顯示區(qū)域則會(huì)把整個(gè)數(shù)據(jù)段的內(nèi)容邏輯解析并轉(zhuǎn)化。測試效果如圖5所示：圖5解碼分析六、IIC解碼數(shù)據(jù)查找1、查找總線：IIC；2、開始時(shí)間：Ds、A、B；3、結(jié)束時(shí)間：Dp、A、B。eMMC協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器廠家就找歐奧！

    請(qǐng)勿混淆時(shí)鐘通道C2與SlotC中的Pod2，后者記作PodC2。對(duì)于時(shí)鐘通道，C是Clock的縮寫，不是SlotC的縮寫。為什么有時(shí)Pod會(huì)丟失？導(dǎo)致所有Pod對(duì)邏輯分析儀模塊均不可用的原因有多種：在狀態(tài)采樣模式中，在選擇了一般狀態(tài)模式采樣選項(xiàng)的情況下，選擇采集內(nèi)存深度需要將一個(gè)Pod對(duì)保留用于時(shí)間標(biāo)簽存儲(chǔ)。在這種情況下。歐奧電子是Prodigy在中國區(qū)的官方授權(quán)合作伙伴，ProdigyMPHY,UniPro,UFS總線協(xié)議分析儀測試解決方案不會(huì)收到EAR進(jìn)出口方面的管制。同時(shí)還有代理其他總類的協(xié)議分析儀，包括嵌入式設(shè)備用的SDIO協(xié)議分析儀,QSPI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器。I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,RFFE協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器等等。我司還有代理SPMI協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,車載以太網(wǎng)分析儀，以及各種相關(guān)的基于示波器的解碼軟件和SI測試軟件。同時(shí)，歐奧電子也有提供高難度焊接，以及高速信號(hào)，如UFS，DDR3/DDR4，USBtypeC等高速協(xié)議抓取和分析的服務(wù)。將內(nèi)存深度設(shè)置為值的一半（或更小）將返回Pod。在狀態(tài)采樣模式中，在選擇了高速狀態(tài)模式采樣選項(xiàng)的情況下，會(huì)將一個(gè)Pod對(duì)保留用于時(shí)間標(biāo)簽存儲(chǔ)。在定時(shí)采樣模式中，在選擇了跳變/存儲(chǔ)限定定時(shí)模式采樣選項(xiàng)的情況下：選擇了小采樣周期時(shí)。I3C協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！梅州PCIE分析儀

DigRF v4協(xié)議分析儀/訓(xùn)練器找歐奧！黃石UFS分析儀報(bào)價(jià)

    沒有額外的被測設(shè)備）的一小段時(shí)間內(nèi)，可以自動(dòng)：定位每個(gè)通道上的建立/保持窗口。針對(duì)盡可能寬的數(shù)據(jù)有效窗口調(diào)整閾電壓設(shè)置。眼定位是獲得盡可能小的邏輯分析儀建立/保持窗口的一種簡單方法。眼定位概要：對(duì)于指定的狀態(tài)采樣時(shí)鐘，眼定位可在時(shí)鐘沿前后的一個(gè)固定時(shí)間范圍內(nèi)查找數(shù)據(jù)信號(hào)轉(zhuǎn)變（閾電壓交叉點(diǎn)），并為顯示相關(guān)內(nèi)容以幫助設(shè)置佳采樣位置。為了了解眼定位顯示，需為每個(gè)活動(dòng)時(shí)鐘沿拍攝一張有關(guān)該時(shí)鐘沿的數(shù)據(jù)信號(hào)轉(zhuǎn)變的“照片”。將此照片看作快照、定格畫面或頻閃觀測儀（位于時(shí)鐘沿中心或與時(shí)鐘沿同步）。到達(dá)時(shí)鐘沿的時(shí)間為T=0。例如，如果選擇盒1上時(shí)鐘輸入的上升沿作為狀態(tài)采樣時(shí)鐘，每次拍攝“照片”時(shí)，都將達(dá)到盒1時(shí)鐘上的上升沿。盒1時(shí)鐘沿之間的時(shí)間是否相同無關(guān)緊要。如果同時(shí)在上升沿和下降沿上進(jìn)行采樣，那么在每一個(gè)時(shí)鐘沿上都會(huì)拍攝一張“照片”。此外，在活動(dòng)沿之間消耗了多少時(shí)間也不重要。每一個(gè)時(shí)鐘沿上都要拍攝“照片”。要構(gòu)建眼定位顯示，需要將無數(shù)張這樣的“照片”堆疊在彼此的頂端。每張“照片”都在T=0時(shí)對(duì)齊，此時(shí)將達(dá)到活動(dòng)時(shí)鐘沿。照片拍自上升沿還是下降沿并沒有關(guān)系；它們會(huì)在T=0時(shí)對(duì)齊。構(gòu)建顯示后。黃石UFS分析儀報(bào)價(jià)